도금두께측정기 ComPact5/PIN 








유해물질분석 injurious elements analysis For RoHS and WEEE Measurement 


정성분석 Qualitative analysis 


정량분석 Quantitative analysis 


동질성 -이질성 분석 haracterisation of Inhomogeneous samples 


도금두께측정 Coating thickness measurement 




ComPact5/PIN 분석장비는 RoHS 및 WEEE 대응을 위한 분석환경에 이상적인 분석성능으로 적합하게 설계된 시스템입니다 . 고성능의 분석능력 합리적인 가격으로 정밀하고 완벽한 분석데이타를 제공하는 성분분석기이면서 ,도금두께 측정기입니다 . ComPact5/PIN분석장비는 고해상도의 실리콘 반도체 검출기 [silicon semiconductor detector]가 적용되어 ,극한의 검출능력 높은 정밀성을 요구하는 사용자에게 적합한 시스템입니다 . 샘플에 대한 동질성 및 이질성 분석 ,다양한 합금원소에 대한 분석 ,유해물질 분석 등 정성분석 ,정량분석에 높은 정밀성을 제공합니다 . 고해상도의 검출성능과 함께 적용된 펄스 -노이즈 판별성능 [signal-to-noise ratio deconvolution]으로 인해 ,solar panel과 같이 매우 얇은 박막 및 난해한 도금층에 대한 높은 분석성능의 어플리케이션을 지원합니다 . 대형챔버를 적용하여 큰 사이즈의 자동차부품 ,PCB 등에서부터 ,커넥터 ,리드프레임과 같이 작고 정밀한 부품에 이르는 고객의 요구와 다양한 분석작업에 적합하도록 설계되었습니다 . 강력한 성능의 소프트웨어는 고체샘플뿐만 아니라 용액 [liquid sample]상태의 샘플에 대한 분석 솔루션을 제공합니다 .[Ca:원자번호 Z=13부터 분석가능 ]. 또한 다양한 합금소재상에 다양하고 복잡한 도금층에 대한 최적의 어플리케이션을 제공합니다 . ComPact5/PIN시스템은 품질관리 제품개발에 있어서 다양하고 복잡한 소쟁 대한 분석 및 측정 작업에 있어서 이상적인 장비입니다 . 새로운 펠티에 냉각방식의 Pin_Diode 검출기로써 ,별도의 LN냉각물질을 필요치 않아 유지비가 적게 들어가며 ,Si(Li)-검출기는 탁월한 에너지 해상도를 구현합니다 . 다양한 소프트웨어 옵션 사항들은 어떤 응용 프로그램 (도금 두께 및 분석 )에 대해서도 최적의 어플리케이션을 제공합니다 . I2C 전자제어 시스템을 적용하여 ,X-Ray Tube. XYZ-스테이지 ,다중 콜리메타 ,검출기 필터 등 측정 및 분석작업에 있어서 최적화된 모듈을 사용자에게 제공하며 ,20% 이상 유효 -효율 설계로 부품의 성능 (X-선 튜브의 경우 5년 ~8년 이상 사용가능 )이 탁월하고 안정적이며 ,Windows 2000/NT환경에서 프로그램되어 사용자에게 매우 친숙한 인터페이스를 제공합니다 .












제품번호 : 427224

기본사양 : 유해물질,정성,정량,동질성,이질성,도금두께측정

모델명 : ComPact5/PIN

판매금액 : 가격협의


제품분류자동화/전기·전자/계측장비 > 성분분석기

제품현황주문제작

제조사독일

거래가능지역전체

가격할부불가능

제품상태신제품

AS여부가능

세금계산서가능





Posted by 구콰차

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